Dando la vuelta al microscopio para medir la piezoelectricidad de los materiales a la nanoescala
02.11.2017
Investigadores del <a href="https://icmab.es/" title="Institut de Ciència de Materials de Barcelona" alt="Institut de Ciència de Materials de Barcelona" target="_blank">Institut de Ciència de Materials de Barcelona</a> (ICMAB-CSIC) consiguen, por primera vez, medir las pequeñísimas cantidades de carga generadas en los materiales piezoeléctricos con un uso inverso del microscopio de fuerzas atómicas (AFM).